Microaula em Método CELULA • Prévia Aberta

<p><strong>Circunstância e Desafio Executivo:</strong> Fluxos de teste industrial de semicondutores (ATE - Automated Test Equipment), arquitetura para testabilidade (DFT - Design for Testability, JTAG e scan chains) e certificação nacional.</p>

Célula 05: Encapsulamento, Teste e Validação de Circuitos Integrados no Brasil

Objetivo de Aprendizagem: Fluxos de teste industrial de semicondutores (ATE - Automated Test Equipment), arquitetura para testabilidade (DFT - Design for Testability, JTAG e scan chains) e certificação nacional.

1. Fundamentos e Visão Global

Contextualização Estratégica e Fundamentos Globais: Em Engenharia de Hardware e Microeletrônica no Brasil: SoCs e Lei de TICs, o domínio de 'Encapsulamento, Teste e Validação de Circuitos Integrados no Brasil' conecta diretamente as demandas reais do mercado brasileiro aos referenciais internacionais da ONU, Agenda Pós-2030 e melhores práticas globais. O objetivo central desta etapa é: Fluxos de teste industrial de semicondutores (ATE - Automated Test Equipment), arquitetura para testabilidade (DFT - Design for Testability, JTAG e scan chains) e certificação nacional.

2. Instrumentos Técnicos, Indicadores...